Question

有100名學(xué)生參加兩次科技知識(shí)測(cè)試，條形圖顯示兩次測(cè)試的分?jǐn)?shù)分布情況．

請(qǐng)你根據(jù)條形圖提供的信息，回答下列問(wèn)題（把答案填在題中橫線上）；
（1）兩次測(cè)試最低分在第

一

次測(cè)試中；
（2）第

二

次測(cè)試較容易．

Answer 1

分析：（1）由條形圖可知，第一次測(cè)試0-19分為最低分；
（2）分析條形圖，第二次測(cè)試及格人數(shù)和高分人數(shù)都比第一次多，所以第二次測(cè)試比較容易．

解答：解：（1）∵0-19分為最低分，只出現(xiàn)在第一次測(cè)試中，
∴兩次測(cè)試最低分在第一次測(cè)試中；

（2）∵第二次測(cè)試及格人數(shù)和高分人數(shù)都比第一次多，
∴第二次測(cè)試比較容易．
故答案為一；二．

點(diǎn)評(píng)：本題考查的是條形統(tǒng)計(jì)圖的綜合運(yùn)用．讀懂統(tǒng)計(jì)圖，從統(tǒng)計(jì)圖中得到必要的信息是解決問(wèn)題的關(guān)鍵．條形統(tǒng)計(jì)圖能清楚地表示出每個(gè)項(xiàng)目的數(shù)據(jù)．