用如圖所示裝置進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，裝置正確且設(shè)計合理的是（　　）

A、圖①所示裝置可吸收HCl氣體并防止倒吸

B、圖②所示裝置進(jìn)行濃硫酸稀釋配制稀硫酸的實(shí)驗(yàn)

C、圖③所示裝置進(jìn)行用已知濃度的NaOH溶液測定鹽酸濃度的實(shí)驗(yàn)

D、圖④所示裝置進(jìn)行用苯萃取碘水中碘的實(shí)驗(yàn)，并把碘的苯溶液從漏斗上口倒出

分析：A．燒瓶可做安全瓶；
B．容量瓶不能用來稀釋溶液；
C．氫氧化鈉應(yīng)用堿式滴定管；
D．苯的密度比水小．

解答：解：A．若發(fā)生倒吸，液體進(jìn)入燒瓶，導(dǎo)管口和液面脫離，液體由于重力作用，降落下來，故可防倒吸，故A正確；
B．容量瓶不能用來稀釋溶液和做反應(yīng)容器，故B錯誤；
C．氫氧化鈉應(yīng)用堿式滴定管，氫氧化鈉與二氧化硅反應(yīng)生成硅酸鈉，硅酸鈉可將活塞黏住，故C錯誤；
D．碘單質(zhì)易溶于苯，苯的密度比水小，從上口倒出，故D正確．
故選AD．

點(diǎn)評：本題考查氣體收集、溶液配制、中和滴定和萃取，題目難度不大，學(xué)習(xí)中注意相關(guān)基礎(chǔ)知識的積累．

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相關(guān)習(xí)題

科目：高中化學(xué) 來源： 題型：

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究．
（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象

品紅溶液褪色

．
（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式

Cu+2H₂SO₄

△

CuSO₄+SO₂↑+2H₂O

Cu+2H₂SO₄

△

CuSO₄+SO₂↑+2H₂O

（3）繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：

Cu+H₂O₂+2H⁺=Cu²⁺+2H₂O

．
若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入（填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式）

Fe₂O₃

、

NaNO₃

．
（4）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是

NaOH（溶液）

．
（5）小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄?xH₂O）．小組成員采用加熱法測定該晶體里結(jié)晶水x的值．
①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量

次；
②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

坩堝質(zhì)量	坩堝與晶體的總質(zhì)量	加熱后坩堝與固體總質(zhì)量
11.7g	22.7g	18.9g

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值（x=5）

偏小

（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是

（填序號）
A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì) B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C．加熱時有晶體飛濺出去 D．加熱失水后露置在空氣中冷卻．

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科目：高中化學(xué) 來源：河北省正定中學(xué)2010屆高三上學(xué)期第一次月考化學(xué) 題型：058

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究．

(1)寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象________．

(2)寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式________

(3)繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：________．若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入(填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式)________、________．

(4)B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是________．

(5)小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體(CuSO₄·xH₂O)．小組成員采用加熱法測定該晶體里結(jié)晶水x的值．

①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量________次；

②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值(x＝5)________(填“偏大”、“偏小”)，這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是________(填序號)

A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì)

B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水

C．加熱時有晶體飛濺出去

D．加熱失水后露置在空氣中冷卻

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科目：高中化學(xué) 來源： 題型：解答題

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究．
（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象．
（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式
（3）繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：．
若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入（填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式）、．
（4）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是．
（5）小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄?xH₂O）．小組成員采用加熱法測定該晶體里結(jié)晶水x的值．
①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量次；
②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：
坩堝質(zhì)量坩堝與晶體的總質(zhì)量加熱后坩堝與固體總質(zhì)量
11.7g 22.7g 18.9g
根據(jù)上表數(shù)據(jù)計算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值（x=5）（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是__（填序號）
A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì)　　　　B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C．加熱時有晶體飛濺出去　　　　　　　　D．加熱失水后露置在空氣中冷卻．

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科目：高中化學(xué) 來源：不詳 題型：問答題

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究．
（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象______．
（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式______
（3）繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：______．
若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入（填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式）______、______．
（4）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是______．
（5）小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄?xH₂O）．小組成員采用加熱法測定該晶體里結(jié)晶水x的值．
①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量______次；
②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

坩堝質(zhì)量	坩堝與晶體的總質(zhì)量	加熱后坩堝與固體總質(zhì)量
11.7g	22.7g	18.9g

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值（x=5）______（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是______（填序號）
A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì) B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C．加熱時有晶體飛濺出去 D．加熱失水后露置在空氣中冷卻．

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科目：高中化學(xué) 來源：0103 月考題 題型：實(shí)驗(yàn)題

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究。

（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象______________________。
（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式______________________。
（3）繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：______________________。若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入（填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式）___________、
___________。
（4）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是___________。
（5）小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄·xH₂O）。小組成員采用加熱法測定該晶體里結(jié)晶水x的值。
①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量___________次；
②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值（x=5）________（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是___________（填序號）
A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì)
B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C．加熱時有晶體飛濺出去
D．加熱失水后露置在空氣中冷卻

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